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其中“COLOR”算法、“OCV”算法、“NCC”算法、“OCR”算法与“错件”中的“COLOR”算法、“OCV算法”、“NCC”算法、“OCR”算法一致。

“Histogram”算法是通过分析区域的平均亮度来检测的，而“Pole”算法是通过检测电容的两个电极要检测的，该2种算法都是针对于电容的缺件检测。


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