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错件选择的(AOI)算法有“TOC”算法、“OCV”算法、“NCC”和“OCR”算法。其中“COLOR”算法是是通过色彩特征来检测的,“OCV”算法是通过字符轮廓线拟合度来检测点,“NCC”算法是通过ROI区域之间的相似度来检测的,“OCR”算法是通过字符识别来检测的。

当错件采用COLOR”算法时,其注册窗体如下:


上图为(AOI)COLOR”算法下的注册窗体,说明如下:

① ROI区域:错件框大小宽度为两个电极之间长度的三分之二,高度大概为电容本体的五分之四。

② 检测算法区域:【检测算法】选择COLOR”算法,其他参数见②区域。

③ 错件的判定参数区域:默认参数为(50100)。

④ 抽色参数区域:COLOR”算法的抽色参数区域。

⑤ 自动参数:自动获取COLOR”算法的抽色参数。

提示:一般采用“自动参数”来获取“COLOR”的抽色参数。

当错件采用OCV”算法时,其注册窗体如下:


上图为OCV”算法下的注册窗体,说明如下:

① ROI区域:错件框大小要稍微大于电阻本体的丝印范围,框住所有的丝印区域,无其他干扰成分。

② 检测算法区域:【检测算法】选择OCV”,其他参数见②区域。

③ 错件的判定区域:默认参数范围为(08)。

提示:当元件丝印具有方向限制时,区域中的【极性】默认为选择,否则为非选择状态。

当错件采用(AOI)NCC”算法时,其注册窗体如下:

上图为NCC”算法下的注册窗体,说明如下:

① ROI区域:错件框大小要稍微大于电阻本体的丝印范围,框住所有的丝印区域,无其他干扰成

② 检测算法区域:【检测算法】选择NCC”,其他参数见②区域。

③ 错件的判定区域:默认参数范围为(015)。

提示:当元件丝印具有方向限制时,区域中的【极性】默认为选择,否则为非选择状态。

 

 

当采用(AOI)COLOR”算法发生“错件”误报时,如下:


上图为“错件”误报调试窗体,待测元件的本体色彩与亮度与标准本体的色彩和亮度差异不大,该状态下选择调节抽色参数来消除误报。将①中的抽色参数的“亮度”由(7589)调节为(3389),则该误报消除。

当待测元件的本体色彩和亮度与标准元件的本体色彩和亮度差异大时,如下图:


对于此类“错件”误报,采用“内派生”操作,单击①中的【派生】操作,增加待用检测项标准。当“错件”误报时返回值与判定范围的下限差异不大时,降低判定下限,一般为5个刻度值为单位。



当采用(AOI)OCV”算法发生“错件”误报时,如下

上图为 “错件”误报窗体,标准丝印为“TX”,待测丝印为“TF”,丝印发生改变,选择增加丝印标准,进行“内派生”操作,如区域中的【派生】,消除此类误报。或者OCV”算法的返回值为13.6,判定范围为(012)时,采取增大判定上限,将判定范围调节为(015),则消除该误报。

当采用(AOI)NCC”算法发生“错件”误报时,为采用“NCC”算法的“错件”误报调试窗体,选用的操作为【派生】,增加一个待用检测项。




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